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簡要描述：便攜式紫外線強度計UV-313采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
產(chǎn)品型號：UV-313廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-03-25訪 問 量：2032產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
便攜式紫外線強度計UV-313采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
特點
光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正
數(shù)字液晶顯示，帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
低電量提醒
自動延時關(guān)機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
技術(shù)參數(shù)
| 項目 | 參數(shù) | 備注 |
| 波長范圍λ1，峰值波長λp | （290～340）nm，λP＝313nm | 用戶二選一 |
| 波長范圍λ2，峰值波長λp | （315～370）nm，λP＝340nm | |
| 輻照度測量范圍 | （0.1～199.9×103） μW/cm2 | |
| 零值誤差（滿量程FS） | <滿量程的±1.0% | |
| 長波響應(yīng)誤差 | <15% | |
| 余弦特性（方向性響應(yīng)）誤差 | <10% | |
| 非線性誤差 | <±1.5% | |
| 換檔誤差 | <±1.0% | |
| 疲勞誤差 | <3.0% | |
| 相對示值誤差 | <±8.0％（相對于NIM標準） | |
| 響應(yīng)時間 | <1秒 | |
| 使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH | |
| 尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
| 電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） | |
| 整機功耗 | ＜0.1VA |
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